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Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) JSM-IT300LV

Último modelo introducido a la familia de microscopios electrónicos de barrido con la mayor versatilidad disponible en el mercado y con una cámara de muestras de amplia capacidad para albergar los más diversos tipos y tamaños de muestra. Incorpora capacidad de control mediante pantalla táctil, rango de presión expandido, y nuevo diseño de su cámara de muestras para superiores capacidades de accesorios tales como detectores para análisis elemental, WDS, CL, entre otros.