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Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) JSM-6510

Microscopio electrónico de barrido tradicional con mejorada resolución y voltaje de aceleración de electrones. Completo software de control y capacidad de crecimiento mediante accesorios opcionales tales como análisis elemental, motorización, operación en modo de bajo vacío.

 

Fabricante: Jeol